變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)預(yù)測(cè)

　　變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)預(yù)測(cè)?

　　變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展趨勢(shì)預(yù)測(cè)。在現(xiàn)代工業(yè)設(shè)備中，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是不可或缺的一部分的理由，還可由以下兩方面來(lái)看，傳統(tǒng)的工業(yè)設(shè)備如在其上增加了必要的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，配備精密測(cè)量部件(附件)，則其功能和精度可以提高，便于用戶操作和維護(hù)，安全等級(jí)也可以提高，設(shè)備可以增值;工業(yè)設(shè)備作為自動(dòng)化系統(tǒng)的控制對(duì)象或作為自動(dòng)化系統(tǒng)的一部分，應(yīng)該能與自動(dòng)化系統(tǒng)的三部分(檢測(cè)、控制、執(zhí)行)相兼容或提供接口，使之集成為一個(gè)有機(jī)的整體，無(wú)論是單機(jī)自動(dòng)化或作為大型自動(dòng)化裝置的一部分，都使該工業(yè)設(shè)備的用途擴(kuò)大。綜上所述，作為工業(yè)設(shè)備本身增加自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、測(cè)量?jī)x表或提供接口，是傳統(tǒng)設(shè)備更新?lián)Q代的必要條件。

　　近年來(lái)，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)正處于傳統(tǒng)型向新型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)轉(zhuǎn)型的發(fā)展階段。新型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)是微型化、數(shù)字化、智能化、多功能化、系統(tǒng)化、網(wǎng)絡(luò)化，它不僅促進(jìn)了傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)的改造，而且可導(dǎo)致建立新型工業(yè)，是21世紀(jì)新的經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)點(diǎn)。微型化是建立在微電子機(jī)械系統(tǒng)(MEMS)技術(shù)基礎(chǔ)上的，目前已成功應(yīng)用在硅器件上形成硅壓力自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(如上述EJX變送器)。微電子機(jī)械加工技術(shù)，包括體微機(jī)械加工技術(shù)、表面微機(jī)械加工技術(shù)、LIGA技術(shù)(X光深層光刻、微電鑄和微復(fù)制技術(shù))、激光微加工技術(shù)和微型封裝技術(shù)等。MEMS的發(fā)展，把自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的微型化、智能化、多功能化和可靠性水平提高到了新的高度。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的變頻器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，在微電子技術(shù)基礎(chǔ)上，內(nèi)置微處理器，或把微自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)和微處理器及相關(guān)集成電路(運(yùn)算放大器、A/D或D/A、存貯器、網(wǎng)絡(luò)通訊接口電路)等封裝在一起完成了數(shù)字化、智能化、網(wǎng)絡(luò)化、系統(tǒng)化。(注：MEMS技術(shù)還完成了微電動(dòng)機(jī)或執(zhí)行器等產(chǎn)品，將另作文介紹)網(wǎng)絡(luò)化方面，目前主要是指采用多種現(xiàn)場(chǎng)總線和以太網(wǎng)(互聯(lián)網(wǎng))，這要按各行業(yè)的特點(diǎn)，選擇其中的一種或多種，近年內(nèi)流行的有FF、Profibus、CAN、Lonworks、AS-Interbus、TCP/IP等。

　　除MEMS外，新型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展還有賴于新型敏感材料、敏感元件和納米技術(shù)，如新一代光纖自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、超導(dǎo)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、焦平面陳列紅外探測(cè)器、生物自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、納米自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、新型量子自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、微型陀螺、網(wǎng)絡(luò)化自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、智能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、模糊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)、多功能自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)等。

　　多自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)技術(shù)正在形成熱點(diǎn)，它形成于20世紀(jì)80年代，它不同于一般信號(hào)處理，也不同于單個(gè)或多個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的監(jiān)測(cè)和測(cè)量，而是對(duì)基于多個(gè)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)量結(jié)果基礎(chǔ)上的更高層次的綜合決策過(guò)程。有鑒于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)的微型化、智能化程度提高，在信息獲取基礎(chǔ)上，多種功能進(jìn)一步集成以致于，這是必然的趨勢(shì)，多自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)技術(shù)也促進(jìn)了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)的發(fā)展。多自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)的定義概括：把分布在不同位置的多個(gè)同類或不同類自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)所提供的局部數(shù)據(jù)資源加以綜合，采用計(jì)算機(jī)技術(shù)對(duì)其進(jìn)行分析，消除多自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)信息之間可能存在的冗余和矛盾，加以互補(bǔ)，降低其不確實(shí)性，獲得被測(cè)對(duì)象的一致性解釋與描述，從而提高系統(tǒng)決策、規(guī)劃、反應(yīng)的快速性和正確性，使系統(tǒng)獲得更充分的信息。其信息在不同信息層次上出現(xiàn)，包括數(shù)據(jù)層(像素層)、特征層、決策層(證據(jù)層)。由于它比單一自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)信息有如下優(yōu)點(diǎn)，即容錯(cuò)性、互補(bǔ)性、實(shí)時(shí)性、經(jīng)濟(jì)性，所以逐步得到推廣應(yīng)用。應(yīng)用領(lǐng)域除軍事外，已適用于自動(dòng)化技術(shù)、機(jī)器人、海洋監(jiān)視、地震觀測(cè)、建筑、空中交通管制、醫(yī)學(xué)診斷、遙感技術(shù)等方面。